Momentum Press

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie

360,16 lei402,99 lei-11%

Economisești 42,83 lei

Preț actualizat: 2026-07-26

Despre acest produs

Cauți Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie din portofoliul Momentum Press? Este disponibil în oferta elefant.ro la 360,16 lei, adică 11% sub prețul de listă. Îl monitorizăm în secțiunea Cărți, Muzică & Filme de pe TopBuy.ro, unde prețul se reîmprospătează constant.

Description This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained.

Plătești 360,16 lei în loc de 402,99 lei - o diferență de 42,83 lei datorată reducerii de 11%.

De ce să alegi acest produs

La 360,16 lei, Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie se așază într-o ofertă din zona mid-to-high, iar reducerea de 11% îi crește atractivitatea.

Recomandăm să compari prețul cu restul ofertelor din Foreign Books și să parcurgi fișa produsului la magazin înainte de a comanda.

Întrebări frecvente

Ce preț are Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie?

Prețul pentru Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie este 360,16 lei, după o reducere de 11% de la 402,99 lei, la elefant.ro. Pe TopBuy.ro îl actualizăm cu regularitate.

Unde comand Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie?

Comanda se face la elefant.ro: TopBuy.ro îți afișează prețul curent și te trimite direct la pagina ofertei.

Mai are Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie reducere în acest moment?

Da, acum beneficiezi de 11% reducere: 360,16 lei în loc de 402,99 lei.

Din ce categorie face parte?

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie este listat la Cărți, Muzică & Filme, secțiunea Foreign Books pe TopBuy.ro.