Momentum Press

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie

402,99 lei

Preț actualizat: 2026-06-12

Despre acest produs

Pe TopBuy.ro, Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie semnat Momentum Press ajunge la 402,99 lei și se găsește în oferta elefant.ro. Îl monitorizăm în secțiunea Cărți, Muzică & Filme de pe TopBuy.ro, unde prețul se reîmprospătează constant.

Description This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained.

Înainte de a finaliza comanda, confirmă prețul de 402,99 lei și stocul chiar la comerciant.

De ce să alegi acest produs

La 402,99 lei, Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie se așază într-o ofertă din zona mid-to-high.

Pune-l alături de alternativele din Foreign Books, citește specificațiile complete la sursă, apoi decide.

Întrebări frecvente

Ce preț are Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie?

Prețul pentru Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie este 402,99 lei, la elefant.ro. Pe TopBuy.ro îl actualizăm cu regularitate.

Unde comand Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie?

Comanda se face la elefant.ro: TopBuy.ro îți afișează prețul curent și te trimite direct la pagina ofertei.

Din ce categorie face parte?

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie este listat la Cărți, Muzică & Filme, secțiunea Foreign Books pe TopBuy.ro.